Ujian standard dan prosedur ujian untuk sarung tangan antistatik
Sarung tangan anti-statik diperbuat daripada sarung tangan anti statik khas. Bahan yang digunakan adalah serat nilon dan konduktif. Jarak antara gentian adalah 4mm. Ia mempunyai keanjalan yang kuat dan ciri-ciri anti statik. Ia mengelakkan elektrik statik yang dihasilkan oleh tubuh manusia. Menyebabkan kerosakan dan boleh digunakan di dalam bilik yang bersih.
Untuk sarung tangan antistatik, kaedah ujian dan piawaian ujian adalah sangat penting. Banyak peralatan akan digunakan semasa ujian. Terdapat dua kategori megohmmeters untuk ujian, 100V dan 10V (± 5%), di mana 100V digunakan untuk menguji ≧ 1X106 ohm dan 10V digunakan untuk menguji <1x106>1x106> Pada masa yang sama, anda memerlukan tali pergelangan tangan anti-statik, plat logam, dan voltmeter statik.
Ujian ini mesti dilakukan mengikut prosedur tertentu. Prosedur khusus adalah seperti berikut:

1. Keadaan suhu dan kelembapan pada masa pemeriksaan adalah: suhu: 23 ± 3oC, kelembapan relatif: 40% -60% ± 5%.
2. Periksa sama ada peranti diuji dan elektrod megger boleh menjadi bersih. Jika perlu, bersihkan dengan kain lembut yang dilembapkan dengan 70% isopropil alkohol.
3. Pada masa pemeriksaan dan pemeriksaan pertama, sekurang-kurangnya enam sampel produk diperlukan untuk diuji.
4. Periksa rintangan luar sarung tangan. Letakkan sampel diuji pada papan penebat, dan letakkan elektrod megohmmeter pada permukaan luar sarung tangan. Elektrod tidak melebihi sampel.
5. Selepas elektrod diletakkan, apabila menguji sarung tangan anti statik, gunakan fail 10V megohmmeter untuk memeriksa. Sekiranya bacaan <1.0x107 ohm,="" gunakan="" fail="" ini="" untuk="" meneruskan="">1.0x107> Sekiranya membaca> 1.0X107 ohm, gunakan fail 100V untuk pemeriksaan. . Selepas bacaan stabil, rekod bacaan dan semaknya.
6. Gunakan fasa yang sama untuk menyiasat sampel lain. Spesifikasi rintangan luaran: ≥1.0X105 ohm hingga <1.0x109>1.0x109>

Untuk sarung tangan anti-statik, data yang tepat hanya boleh diukur dengan ujian mengikut ketat mengikut prosedur ujian. Hanya untuk mengelakkan kerosakan pada produk elektronik dan cip dalam proses kerja.

